Chi tiết sản phẩm

Hãng sản xuất : Monroe Electronics
Model: 244AK
Bảo hành 12 tháng
Phạm vi đo : ± 3000 volts, độ phân cực tự động.
Độ chính xác: * 0.1%, ± 0.003% / ° C trên +20 đến + 40 ° C
Range (ở đầu ra ghi lại). Sử dụng được tới + 50 ° C.
Tốc độ đáp ứng: *
Đối với bước ngõ vào điển hình: <3ms (10% đến 90%)
Cho bước 1kV: <2½ms (10% đến 90%)
Cho bước 2kV: <3½ms (10% đến 90%)
Cho bước 3kV: <4ms (10% đến 90%)
Độ phân giải bề mặt: Xác định bởi kích thước khẩu độ của đầu dò Và đàu dò bề mặt. Đầu dò kiểu 1017AE & AS Với độ mở 0,07 "(1,75mm) sẽ giải quyết một điểm 0,10" (2,5mm) tại 0,02 "(0.5mm).
Đầu ra của bộ ghi: đầu ra tương tự được nén
Và chia cho 1000 (Mua thêm Model 244AK chia cho 200) cho bên ngoài
Tải lớn hơn 1KΩ. Kết nối ngõ ra là BNC.
Kích thước: 10 x 21.8 x 35.6 cm, có sẵn 1.75 "giá gắn sẵn (1 Hoặc 2 mỗi rack).
Trọng lượng: 3,2 kg
Nguồn cấp: 100, 115, 230 VAC, ± 10%, 50 / 60Hz, 15 watt.
Phụ kiện đi kèm: Hướng dẫn sử dụng trên CD, dây cáp, phono giắc cắm
Đầu dò chưa bao gồm phải mua thêm
1017AE Standard Miniature Probe – End Viewing:
1017AS Standard Miniature Probe – Side Viewing:
1017AEH High Resolution Probe – End Viewing:
1017AEL Low Resolution Probe – End Viewing:
1017ASL Low Resolution Probe – Side Viewing:
1017AT Transparent Miniature Probe:
1017/13 Extension Cable for Model 1017 Probes (Optional Lengths Available. Consult Factory)
1017/22G-110V Gas Purge Kit for Model 1017Probes
1017/22G-220V Gas Purge Kit for Model 1017 Probes
1017E/22D Gradient Adapter for Model 1017E Probe
1017S/22D Gradient Adapter for Model 1017S Probe
Chi tiết
Datasheet
Manual
The model 244AK ISOPROBE® Electrostatic Voltmeter measures surface potential in the range of ±2600 volts without contacting the measured surface. It features a 200:1 output ratio and high-accuracy (0.1%), drift-free measurements that are almost fully independent of probe-to-surface separation.
Side- and end-viewing probes accommodate various mounting requirements. Specialty high-resolution probes allow the 244AK to resolve spot diameters as small as 1 mm. Probes include air purge capability to prevent ingress of particulate.
Electrophotographic measurements
Radiation effect studies
Electret research
Electric field studies
Process monitoring and control
Integrated circuit manufacturing and handling